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直讀光譜與XRF的區別
發布日期:[8:37:37]   
    

1、兩者的測試原理不同:直讀光譜儀是用電?。ɑ鴰ǎ┑母呶率寡分懈髦衷卮庸燙苯悠⒈患し⒍涑齦髟氐奶卣韃ǔ?,經光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的光電倍增管,光信號變成電信號,經儀器的控制測量系統將電信號積分并進行模/數轉換,然后由計算機處理,并計算出各元素的百分含量。X熒光光譜儀用X射線照射試樣,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。

2、直讀光譜儀要求試樣具有導電性,且只能是固體樣品,簡單地說就是直讀只能分析金屬固體樣品中的元素。而X射線熒光光譜儀對樣品要求不高,可以分析粉末樣品、固體樣品、液體樣品,不需要樣品具有導電性,金屬及非金屬樣品均可分析,XRF還可量測鹵素,用于測試RoHS中管制的元素分析,可以看出X熒光光譜儀適用范圍更廣,適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業。

3、直讀激發測試完樣品之后會少量的破壞樣品表面,X熒光是無損檢測,測試完成后樣品不會發生變化。

南京聯創分析儀器制造有限公司

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